신제품
- Tektronix
- Keithley 소스 측정
- Keithley 시리즈 2650 고전력 SourceMeter® SMU 장비
Keithley 시리즈 2650 고전력 SourceMeter® SMU 장비
전력 반도체 및 구성 요소 특성화 솔루션
2650 시리즈 고전력 SourceMeter SMU 장비는 특별히 고전압/전류 전자 장치 및 전력 반도체(예: 다이오드, FET, IGBT, 고선명도 LED, DC-DC 컨버터, 배터리, 태양 전지, 기타 고전력 소재, 구성 요소, 모듈, 서브 어셈블리)의 특성화 및 테스트를 위해 설계되었습니다. 이러한 SMU 장비는 뛰어난 전력, 정밀도, 속도, 유연성, 및 사용 편의성을 제공하여 연구 개발, 프러덕션 테스트 및 안정성 환경에서 생산성을 개선합니다. 최대 3,000V 또는 최대 2,000W의 펄스 전류 파워를 제공하는 두 가지 장비를 사용할 수 있습니다.
Models
| Model | 채널 | 최대 전류 소스/ 측정 범위 |
최대 전압 소스/ 측정 범위 |
측정 분해능 (전류/전압) |
전원 |
|---|---|---|---|---|---|
| 2651A | 1 | 50A | 40V | 100fA/100nV | 2000W |
| 2657A | 1 | 120mA | 3,000V | 1fA/100nV | 180W |
FEATURES AND BENEFITS
특징 |
장점 |
| 유동성이 뛰어난 4분할 전압 및 전류 소스/부하 장치와 정밀 전압/전류 미터를 함께 제공 | 6½ Digits 분해능의 동급 최강 성능을 제공합니다. |
| 최대 2,000W의 펄스 파워(±40V, ±50A) 또는 최대 200W의 DC 전원(±20A에서 ±10V, ±10A에서 ±20V, ±5A에서 ±40A)을 소싱 또는 싱크(2651A)하며 두 장치를 직렬 또는 병렬로 쉽게 연결하여 최대 ±100A 또는 ±80V의 솔루션 제공 가능 | 전력 반도체, HBLED, 광학 장치, 태양 전지, GaN/SiC 및 기타 복합 소재와 장치의 특성화/테스트가 지원됩니다. 적용 분야로는 반도체 접합 온도 특성화, 고속/고정밀 디지털화, 일렉트로마이그레이션 연구, 고전류/고전력 장치 테스트 등이 있습니다. |
| 최대 180W의 DC 또는 펄스 파워(20mA에서 ±3,000V, 120mA에서 ±1,500V)를 소싱 또는 싱크(2657A) | GaN, SiC 및 기타 복합 소재와 장치 등의 전력 반도체 장치 특성화 및 테스트, 3kV까지의 분석 및 누설 테스트, 그리고 밀리초 이하 단위의 과도 전류 특성화에 필요한 고전압을 제공합니다. |
| 내장된 웹 브라우저 기반 소프트웨어 | 전 세계 어디서나 모든 컴퓨터의 모든 브라우저를 통해 원격 제어할 수 있습니다. |
| 디지타이징 또는 통합 측정 모드 선택 가능 | 빠르게 변화하는 열 효과를 포함하여 과도 상태 및 안정된 상태의 동작을 정밀하게 특성화할 수 있습니다. |
| TSP(테스트 스크립트 처리) 기술 | 모델 2657A 및 시리즈 2600B 모델과의 간편한 시스템 통합이 가능합니다. |
| TSP-링크 채널 확장 버스 | 여러 2651A/2657A 및 일부 시리즈 2600B SMU 장비를 결합하여 최대 32개 채널을 포함하는 통합 시스템을 구성할 수 있습니다. |
| 모델 8010 고전력 장치 테스트 고정기 및 모델 8020 고전력 인터페이스 패널과 호환 | 패키징된 부품 또는 웨이퍼 레벨에서 고전력 장치를 테스트하기 위해 안전하고 쉽게 연결할 수 있습니다. |
| 무료 테스트 스크립트 작성기 소프트웨어 도구 | TSP 테스트 스크립트를 만들고 수정하고 디버그하고 저장하는 데 사용할 수 있습니다. |
| ACS Basic 반도체 구성 요소 특성화 소프트웨어(옵션) | 개발, 품질 확인 또는 실패 분석 중에 패키징된 부품 특성화를 수행할 때 생산성을 최대화할 수 있습니다. |
