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Model 2635A

시리즈 2600 시스템 소스미터 계측기는 소속의 소스-측정 성능과 더불어 첨단 자동화 기능과 시간을 절약할 수 있는 소프트웨어 툴을 제공함으로 인해 소자의 광범위한 I-V 테스팅을 위한 이상적인 솔루션입니다.
시스템 2600은 하나의 컴팩트한 장비에 파워서플라이, 전류 공급원, 디지털 멀티미터, 임의 파형 발생기, 전압 또는 전류 펄스 발생기, 전자 부하, 트리거 컨트롤러가 결합되었습니다.
시리즈 2600을 기반으로 한 시스템은 테스트 스크립트 프로세스(TSP)를 통해서 고속 테스트 스크립트를 실행할 수 있습니다. 테스트 절차는 PC를 기반으로 한 프로그램에 비해 최대 10배의 처리속도를 확보하기 위해 외장 PC 컨트롤러가 아닌 계측기 내부에 내장된 컴퓨터에서 진행되고 실행 되어집니다. TSP는 마스터 2600 유닛이 소싱, 측정, 양/불 판정, 테스트 흐름 제어, 부품 선별 작업과 부품 핸들러 또는 프로브 제어를 함으로써 시리즈 2600을 기반으로 한 시스템이 완벽한 측정과 자동화 솔루션을 가진 단독적인 시스템의 역할을 수행할 수 있도록 합니다. 측정 핀 수의 증가에 대응하기 위한 어떠한 종류의 SMU를 기반으로 한 시스템보다도 많은 채널 수를 제공할 수 있습니다.
업계에서 가장 빠른 처리량을 제공함으로써 테스트 비용을 줄여줍니다.
TSP-Link 버스에서 제공하여 주는 정밀한 트리거 동기와 성능과 함께 결합된 내장프로세서와 TSP 테스트스크립트 기술로 고속 병렬테스팅을 구현하여 드립니다. 메인 프레임 또는 본체가 필요치 않음으로 인한 투자비용 절감 - 이러한 특징으로 인해 엔지니어들은 채널당 아주 저렴한 가격으로 쉽게 확장할 수 있는 시스템을 구성하실 수 있습니다.

주요기능

•Combines a power supply, true current source, 6-1/2 digit DMM, arbitrary waveform generator, V or I pulse generator with measurement, electronic load, and trigger controller – all in one instrument

•Family of products offers wide dynamic range: 1fA to 50A and 1μV to 200V

•20,000 rdg/s provides faster test times and ability to capture transient device behavior

•Precision timing and channel synchronization (<500ns)

•USB port for saving data and test scripts

•LXI Class C compliance supports high speed data transfer and enables quick and easy remote testing, monitoring, and troubleshooting

•Software:

•TSP® Express for quick and easy I-V test (embedded)

•ACS Basic Edition for semiconductor component characterization (optional)

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